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產(chǎn)品中心光學測量儀器顯微OCT掃頻測振/磁光克爾FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）
日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長，倍數(shù)高，能夠應用在各種檢測場合和質(zhì)量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭，顯微鏡系統(tǒng)的放大倍率可涵蓋20X到8000X，工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。50/50三端輸出顯微鏡的粗調(diào)范圍為50mm，精確調(diào)整分辨率可達0.1mm，并可同時進行視頻輸出和雙目觀測。
FS70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。可應用于切割、修整、校正、 給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。
特點
采用Mitutoyo遠場校正鏡頭
三端輸出設計可輕松接收視頻
轉(zhuǎn)盤可接最多四個物鏡
應用：
切割、修整、校正、 給半導體電路做標記
薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。
還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。
• 可用于紅外光學系統(tǒng)*。
應用：晶體硅的內(nèi)部觀察；紅外光譜特征分析。
* 需要紅外光源和紅外攝像機。
• 支持BF (亮視場)、DF (暗視場)、偏振光及微分干涉對比(DIC) 的型號(產(chǎn)品) 可用。
• 帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學系統(tǒng)上的標準配件。
• 內(nèi)傾轉(zhuǎn)塔和超長工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）
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