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光學測量儀器

相機線寬測量儀光度儀/反射計偏振分析儀/旋光儀顯微OCT掃頻測振/磁光克爾探測卡/感應卡觀察儀/觀察鏡波前分析儀/波前傳感器示波器精密定位/光學平臺功率計自準直儀光譜分析儀脈寬測量(相關儀等) 光束/光斑質量分析儀干涉儀/標準具波長計相機/鏡頭/機器視覺

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FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）

FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）特點采用Mitutoyo遠場校正鏡頭三端輸出設計可輕松接收視頻轉盤可接最多四個物鏡

更新時間：2024-12-09

產品型號：

瀏覽量：1384
基于激光GHz聲波振動觀測系統 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測振/磁光克）

基于激光GHz聲波振動觀測系統 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測振/磁光克）基于激光的觀測系統，專門設計用于顯示基于電介質/壓電的高頻設備的表面聲波 surface acoustic wave（SAW）和體聲波 Bulk Acoustic Wave（BAW），如SAW濾波器（Interdigital Transducer 叉指換能器 IDT）和薄膜體聲波諧振器（FBAR）

更新時間：2025-02-25

產品型號：MLD-101

瀏覽量：1940
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統 BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克）

用于晶圓的縱向克爾效應量測系統 BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于8英寸或12英寸晶圓的硬盤磁頭和磁傳感器目標映射測量的非接觸式評估系統。

更新時間：2025-02-25

產品型號：BH-618SK-

瀏覽量：1741
用于晶圓的極向克爾效應測量系統 BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測振/磁光克）

用于晶圓的極向克爾效應測量系統 BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于磁性半導體的 8 英寸或 12 英寸晶圓目標映射測量的非接觸式評估系統。

更新時間：2025-02-25

產品型號：BH-810CPC25-

瀏覽量：1856
垂直磁各向異性評價系統 BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾)

垂直磁各向異性評價系統 BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽在固定磁場方向下具有旋轉樣品架的角度依賴性分析系統。

更新時間：2025-02-25

產品型號：

瀏覽量：1690

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